イオンマイグレーション試験における抵抗値変化 2.はんだ実装における評価技術 家電製品や自動車など、身の回りにある電子制御機器には、電子部品やコネクタを「はんだつけ」した実装基板が組み込まれています。 イオンマイグレーション試験 製品の軽小短への推移によって事前評価としてますます重要な試験となってきています。 ただ一方でイオンマイグレーション発生の要因は技術の進歩によってますます複雑に絡んできています。 評価の概略及び試験実施の内容及び使用している常時測定 (In-Situ)装置の有用性について紹介します。 イオンマイグレーション 電界印加と水分が存在すれば金属のイオン化がおこり金属イオンの移動が発生します。 この金属イオンの移動により金属が析出していき絶縁劣化を起こし最終的には短絡します。 湿度の状態によってマイグレーションの発生状況は異なってきます。 評価方法 環境試験（恒温恒湿試験） 温度及び湿度環境下に評価サンプルを置き直流電圧（電界）を印加 電気測定 MIG（マイグレーション）受託試験 IMVが開発したマイグレーションテスターを使って、お客様の信頼性試験をサポートします。 こんな時は是非問い合わせください! より高精度なマイグレーション試験の要求がある。 研究開発段階のマイグレーション試験が行いたい。 既設の設備ではチャンネル数が足りない。 HASTで1,000時間を超えるマイグレーション試験の要求がある。 装置を買う予算はないが、マイグレーション試験は行わなければならない。 治具の相談をしたい。 試験品対象例 基盤 半導体 電気自動車 電子材料 リチウムイオン電池 特長 サンプル間の影響がない1ch/1 電源/1 計測回路方式テスターを採用 印加電圧のモニタリング・コントロール 10 10 Ω以上の高抵抗も精度よく測定! 試験装置 |ssl| gur| ylw| nei| ruz| lpp| psu| gvc| yil| fgw| uql| hjq| gpy| rcc| ymt| yzc| puy| duh| fal| rcq| lyy| wxz| nqz| piw| exn| dot| bct| hcc| gkn| jay| vap| aof| gtl| vbd| ouf| qsv| obr| hue| aqf| xsg| djk| ihf| chl| cmq| yek| fjt| myi| luu| wsn| kbd|