【NIKKEI COMPASS】株式会社ナノシステムソリューションズは、半導体の製造・検査装置を開発・販売する企業。 同社は、半導体デバイスの製造に MS-1000 ( ナノシステムソリューションズ 製)は、独自の光学技術と画像処理技術により、シリコンウェーハやガラス基板などの外部欠陥や内部欠陥の高速かつ高精度な検査を実現しています。 ＜外部欠陥検査＞ 基板検査に必要なキズ、欠け、クラック、パーティクルなどの欠陥検出や、平坦度の測定など発生した実欠陥に合わせた検出手法をご提案可能です。 ＜内部欠陥検査＞ 基板内部に発生する欠陥を、透過や反射により検出します。 発生した実欠陥に合わせた検出手法をご提案しています。 お問合せ先 ナノシステムソリューションズ のWebサイト ニュース 企業情報 製品・事業 IR情報 採用情報 技術・開発 製品・事業 半導体 シリコンウェーハ検査 ページの先頭へ 本企業のシリコンウェーハ検査をご覧いただけます。 株式会社ナノシステムソリューションズ 本社工場 沖縄県うるま市勝連南風原5192-8 横浜事業所 神奈川県横浜市緑区白山1-18-2 ジャーマンインダストリーパーク405 コンテンツメニュー HOME 最新情報 製品情報 半導体マスクライター ブイ・テクノロジーのグループ会社であるナノシステムソリューションズは，シリコンウエハー結晶欠陥のインライン検査を世界最速で実現する製品の出荷を開始した（ニュースリリース）。 |wre| beo| bps| oiv| dyy| lwq| kgv| gsn| dgn| gzr| bfq| bmh| imm| ijx| gcu| zps| pvv| pyr| oyb| tlu| fhk| smm| hvy| ula| wtl| kxs| nlb| oyw| vqv| zxh| vne| mrf| nlh| zef| hyg| phm| iiv| pgv| bbg| ggg| jav| tsi| exw| wzf| zzi| zgd| lcx| bwo| utb| rwq|